双値法では、プロットが対角線上に沿った逸脱の場合は系統誤差を考え、
対角線上から離れた逸脱の場合はランダム誤差を考える。

累積和法は精度管理初日から利用可能であり、成績の偏向性を鋭敏にとらえることが可能である。
また管理限界は存在しない。

x-R管理図法では管理試料を1日2回以上測定して、平均値をxで表し正確度を反映する。
また、差をRとして、ばらつきを表す。Rは精密度を反映する。

正常者平均値法は
系統誤差の検出が可能である。

デルタチェック法は同一患者の測定値を過去のデータと比較する方法で、
検査過誤の検出に利用できる。